SISTEMA DE AYUDA A LA GENERACION DE CAMINOS INTERNOS EN CIRCUITOS INTEGRADOS .
Autor: OLIVER MALAGELADA JOAN.
Año: 1989.
Universidad: AUTONOMA DE BARCELONA.
Centro de lectura: CIENCIAS.
Centro de realización: DEPARTAMENTO DE INFORMATICA. UNIVERSIDAD AUTONOMA DE BARCELONA DEPARTAMENTO DE DISEÑO DE CIS. CENTRO
NACIONAL DE MICROELECTRONICA..
Resumen: CON LA LLEGADA
DE LOS CIRCUITOS VLSI EL TEST SE HA CONVERTIDO EN UNO DE LOS PROCESOS MAS COSTOSOS DE LA ETAPA DE DISEÑO DE CI S. LAS PRINCIPALES CAUSAS SON: EL INCREMENTO EL INCREMENTO DE LA DENSIDAD DE COMPONENTES INTEGRADOS POR CIRCUITO, LA DISMINUCION DEL
ACCESO HACIA EL INTERIOR DEL CIRCUITO INTEGRADO DEBIDO AL INCREMENTO INVERSAMENTE PROPOCIONAL DEL NUMERO DE PINES RESPECTO DEL NUMERO DE PUERTAS DEL CIRCUITO, Y LA DISMINUCION DEL TIEMPO DE CICLO OPERATIVO QUE DIFICULTA LA REALIZACION DEL TEST DEL
CIRCUITO A VELOCIDADES DE OPERACION NORMALES.
ANTE ESTA PROBLEMATICA, EN EL DPTO. DE DISEÑO DEL CENTRO NACIONAL DE MICROELECTRONICA Y DE LA SECCION DE INFORMATICA NOS PROPUSIMOS EL DESARROLLO DE UN SISTEMA GENERADOR DE CAMINOS INTERNOS EN CIRCUITOS INTEGRADOS, COMO MODULO DE UN SISTEMA
GENERAL PARA IMPLEMENTAR AUTOMATICAMENTE TECNICAS DE DISEÑO PARA LA TESTABILIDAD.
EL SISTEMA GENERADOR DE CAMINOS INTERNOS SE BASA EN UN CONJUNTO DE REGLAS QUE DEFINEN LOS ELEMENTOS DE MEMORIA SOBRE LOS QUE TRABAJA Y OPERA CON UN CONJUNTO DE NORMAS PARA MINIMIZAR EL INCREMENTO EN AREA PROPIO DE LA APLICACION DE TECNICAS DE
DISEÑO PARA LA TESTABILIDAD, APROVECHANDO LA JERARQUIA DEFINIDA POR LA NETLIST DE ENTRADA AL SISTEMA.
EL SISTEMA, AGIL DE UTILIZAR, SE HA APLICADO A CIRCUITOS PREVIAMENTE DISEÑADOS EN EL DPTO. DE DISEÑO Y SE HAN OBTENIDO SCAN-PATHS GENERADOS SEMIAUTOMATICAMENTE DE FORMA RAPIDA Y CON INCREMENTOS DE AREA PROPIOS DE LA APLICACION DE TECNICAS
DFT.