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LAMINAS DELGADAS, 3



54 tesis en 3 páginas: 1 | 2 | 3
  • INTERACCION DE HACES DE H+ SUB N (N= 1,2,3) CON LAMINAS DELGADAS.
    Autor: DENTON ZANELLO CRISTIAN.
    Año: 1997.
    Universidad: ALICANTE.
    Centro de lectura: CIENCIAS.
    Centro de realización: DEPARTAMENTO: FISICA APLICADA PROGRAMA DE DOCTORADO: CIENCIAS DE MATERIALES.
    Resumen: Hemos empleado el formalismo dieléctrico para estudiar la pérdida de energía media que experimentan haces de H+ subn (n=1,2,3) tras atravesar láminas delgadas de diferentes materiales. También hemos desarrollado un programa para calcular las distribuciones de pérdida de energía, distribuciones angulares y distribuciones de distancias internucleares de los fragmentos moleculares cuando atraviesan las láminas. Este programa combina dinámica molecular y Monte Carlo para seguir la evolución de cada uno de los protones que componen la molécula, de manera tal que se incluye la explosión coulombiana, las excitaciones electrónicas (fuerza autofrenante y efectos de interferencia) y las colisiones nucleares. Encontraremos un buen acuerdo entre nuestras predicciones y los datos experimentales.
  • CARACTERIZACION OPTICA, QUIMICA Y ESTRUCTURAL DE LAMINAS DELGADAS DE ZRO2 Y CEO2.
    Autor: TRIGO ESCALERA JUAN F..
    Año: 1997.
    Universidad: AUTONOMA DE MADRID.
    Centro de lectura: CIENCIAS.
    Centro de realización: DEPARTAMENTO: FISICA APLICADA PROGRAMA DE DOCTORADO: FISICA APLICADA.
    Resumen: Las láminas delgadas de ZrO sub 2 y CeO sub 2 se han depositado mediante un método por doble haz de iones donde el segundo haz de iones de baja energía (20-80 eV) incide directamente sobre la película en crecimiento. Se ha relacionado la composición, estructura y constantes ópticas de las láminas con las condiciones de deposición, especialmente con la energía y flujo del segundo haz de iones. Así mismo, se ha determinado la influencia en el comportamiento de ambos materiales de pequeñas cantidades de impurezas metálicas que se incorporan en las láminas de forma inherente al proceso de deposición.
  • NUCLEACIO I CREIXEMENT DE DIAMANT EN CAPA FINA SOBRE SUBSTRATS D'INTERES TECNOLOGIC.
    Autor: SANCHEZ RAMOS GUILLERMO.
    Año: 1997.
    Universidad: BARCELONA.
    Centro de lectura: FISICA.
    Resumen: La Tesis se centra en el estudio de la nucleación y crecimiento de láminas de diamante obtenidas por la técnica HFCVD. Se trata la problemática de la difícil nucleación del diamante sobre los substratos de estudio, lo cual hace necesario un tratamiento de los mismos previo a la deposición del diamante. Se practican dos pretratamientos diferentes: un rayado mecánico de la superficie con pasta de diamante y el uso de una etapa de predeposición en la cual se polariza eléctricamente el substrato. Se observa, mediante AFM, los primeros estadios del crecimiento de diamante sobre silicio monocristalino. El pretratamiento de rayado se utiliza con éxito para obtener películas de diamante sobre cerámicas utilizadas en prótesis dentales y sobre carburo de tungsteno cementado, material muy empleado en la industria del corte. Las películas se analizan mediante SEM, espectroscopía Raman y EDS. El pretratamiento de polarización del substrato permite aumentar considerablemente la densidad de nucleación del diamante. Durante la etapa de polarización se forma rápidamente un depósito carbonoso que cubre la totalidad del substrato y sobre el cual el diamante nuclea con gran facilidad en la etapa de crecimiento sin polarización. Las técnicas utilizadas en la caracterización del material son XPS, AES, SEM y espectroscopía Raman. El pretratamiento de polarización se ha ensayado con éxito sobre substrato de silicio y sobre láminas de BN hexagonal obtenidas por rf PACVD. La Tesis incluye un estudio de obtención de diamante por ablación con láser que demuestra la posibilidad de depositar diamante por una técnica muy diferente a la síntesis CVD.
  • DEPOSITO DE LAMINAS DELGADAS DE TITANATOS DE PLOMO Y NIOBATOS POR ABLACION CON LASER.
    Autor: MARTIN HERNANDEZ M. JOSE.
    Año: 1996.
    Universidad: AUTONOMA DE MADRID.
    Centro de lectura: CIENCIAS.
    Centro de realización: DEPARTAMENTO: FISICA DE MATERIALES PROGRAMA DE DOCTORADO: FISICA DE MATERIALES.
    Resumen: EN LA TESIS SE PRESENTAN LOS RESULTADOS OBTENIDOS EN EL DEPOSITO DE LAMINAS DELGADAS DE TITANATOS DE PLOMO MODIFICADOS CON CA Y SM, Y LAMINAS DE NIOBATOS DE POTASIO. SE HAN CONTROLADO LAS CONDICIONES DE DEPOSITO PARA OBTENER LAMINAS DE ESTOS MATERIALES DE LA ESTEQUIOMETRIA ADECUADA Y LA CRISTALINIDAD DESEADA SOBRE DISTINTOS TIPOS DE SUSTRATOS. SE HAN REALIZADO TAMBIEN ESTUDIOS DE LOS PROCESOS DE RETRODISPERSION QUE TIENEN LUGAR EN EL PLASMA DE ABLACION, POSIBLE ORIGEN DE LAS PERDIDAS DE LOS ELEMENTOS LIGEROS EN LOS DEPOSITOS CON ESTA TECNICA.
  • ESTUDIO DE LA FERROELECTRICIDAD EN LAMINAS DELGADAS DE TITANATO DE PLOMO MODIFICADO OBTENIDAS POR SOL-GEL.
    Autor: RAMOS SAINZ PABLO.
    Año: 1996.
    Universidad: AUTONOMA DE MADRID.
    Centro de lectura: CIENCIAS .
    Centro de realización: DEPARTAMENTO: FISICA DE MATERIALES PROGRAMA DE DOCTORADO: FISICA DE MATERIALES .
    Resumen: EN LA MEMORIA "ESTUDIO DE LA FERROELECTRICIDAD EN LAMINAS DELGADAS DE TITANATO DE PLOMO MODIFICADOS, OBTENIDAS POR SOL-GEL" SE PRESENTA UN EXHAUSTIVO TRABAJO EXPERIMENTAL, EN ORDEN A CARACTERIZAR Y EVALUAR LAS PROPIEDADES FERROELECTRICAS DE LAMINAS DELGADAS DE (PB, CA) TIO3 SOPORTADAS SOBRE SUSTRATOS DE PT/TIO3/SIO2/SI(001). ES DE GRAN INTERES LA SELECCION DE LAS TECNICAS EXPERIMENTALES UTILIZADAS EN EL DESARROLLO DEL TRABAJO (ESTRUCTURALES, MICROESTRUCTURALES Y ANALITICAS) ASI COMO EL DISEÑO Y MONTAJE DE ALGUNAS DE CARACTERIZACION ELECTRICAS (MEDIDAS DE CICLOS DE HISTERESIS, DE TIEMPO DE CONMUTACION, PERMITIVIDAD CON TEMPERATURA Y PIROELECTRICAS) ESPECIFICAS PARA LAMINAS DELGADAS. CABE DESTACAR EN EL TRABAJO, EL MODO SISTEMATICO DE ABORDAR EL ESTUDIO DEL EFECTO QUE LOS PRETRATAMIENTOS ELECTRICOS Y TERMICOS TIENEN SOBRE LAS PROPIEDADES FERROELECTRICAS, ASI COMO LOS MECANISMOS PROPUESTOS PARA SU INTERPRETACION, SOBRE LA BASE DE LOS DEFECTOS CARGADOS GENERADOS DURANTE EL PROCESO DE LAS LAMINAS (VACANTES DE OXIGENO).
  • LAMINAS DELGADAS DE SINX:H Y SIOX DEPOSITADAS MEDIANTE LA TECNICA ECR-CVD PARA SU APLICACION EN ESTRUCTURAS MIS.
    Autor: GARCIA SANCHEZ SILVIA.
    Año: 1995.
    Universidad: COMPLUTENSE DE MADRID.
    Centro de lectura: FISICA.
    Centro de realización: DEPARTAMENTO: FISICA APLICADA III (ELECTRICIDAD Y ELECTRONICA) PROGRAMA DE DOCTORADO: TECNICAS AVANZADAS EN ELECTRONICA.
    Resumen: LA MEMORIA PRESENTADA CONSTITUYE UN ESTUDIO EN PROFUNDIDAD DE LA TECNICA ELECTRON-CYCLOTRON RESONANCE DE DEPOSITO DE LAMINAS DELGADAS DE LOS AISLANTES SINX: H Y SIOX. SE HAN ANALIZADO LOS PRINCIPALES PARAMETROS DE PRODUCCION QUE AFECTAN A LAS PROPIEDADES DE LAS LAMINAS, COMO SON LA POTENCIA DE MICROONDAS, LA TEMPERATURA DEL PORTASUSTRATOS, LA RELACION DE FLUJOS DE LOS GASES (N2/SIHY PARA EL SINX:H; 02/SIHY PARA EL SIOX) Y LA PRESION TOTAL EN LA CAMARA. SE HAN ESTUDIADO LAS PRINCIPALES CARACTERISTICAS FISICAS DE LAS LAMINAS EN FUNCION DE TALES PARAMETROS, ENCONTRANDOSE LAS CONDICIONES PARA OBTENER CARACTERISTICAS OPTIMAS. SE HAN APLICADO ESTAS LAMINAS A LA REALIZACION Y CARACTERIZACION DE ESTRUCTURAS MIS SOBRE SI Y SOBRE INP. SE HAN OBTENIDO CARACTERISTICAS C-V SOBRE AMBOS TIPOS DE ESTRUCTURAS DE LAS MEJORES ENCONTRADAS EN LA LITERATURA, SIENDO FACTIBLE LA UTILIZACION DE TALES ESTRUCTURAS EN DISPOSITIVOS DE EFECTO CAMPO.
  • PREPARACION Y CARACTERIZACION DE LAMINAS DELGADAS DE ITO, ZNO Y AL:ZNO PARA APLICACIONES FOTOVOLTAICAS.
    Autor: MARTINEZ CALVO M. ANGELES.
    Año: 1993.
    Universidad: AUTONOMA DE MADRID.
    Centro de lectura: CIENCIAS.
    Centro de realización: DEPARTAMENTO: FISICA DE MATERIALES PROGRAMA DE DOCTORADO: FISICA DE MATERIALES.
    Resumen: LA PRESENTE MEMORIA ESTA BASADA EN LA FABRICACION Y CARACTERIZACION DE LAMINAS DELGADAS BASADAS EN OXIDOS DE INDIO Y ZINC, PARA SU USO COMO CAPAS VENTANA Y CONTACTOS FRONTALES EN CELULAS SOLARES FOTOVOLTAICAS. TENIENDO EN CUENTA QUE LAS PROPIEDADES DE ESTOS MATERIALES SON DEPENDIENTES DEL METODO DE PREPARACION UTILIZADO, SE HA PROCEDIDO AL ESTUDIO DEL EFECTO DE LOS DISTINTOS PARAMETROS DE DEPOSICION SOBRE LAS PROPIEDADES OPTOELECTRONICAS, ESTRUCTURALES Y MORFOLOGICAS DE MUESTRAS DEPOSITADAS MEDIANTE UN SISTEMA DE PULVERIZACION CATODICA DE DIODO PLANO Y DESCARGA LUMINISCENTE, EN CORRIENTE ALTERNA, TIPO MAGNETRON. DE ESE MODO, UTILIZANDO SEIS BLANCOS DIFERENTES, SE HA CONSEGUIDO FABRICAR LAMINAS DELGADAS DE ITO Y AL: ZNO QUE PRESENTAN ALTA TRANSPARENCIA A LA LUZ VISIBLE, ALTA REFLECTANCIA INFRARROJA Y BAJA RESISTIVIDAD Y QUE, POR LO TANTO, SON APTAS PARA APLICACIONES FOTOVOLTAICAS.
  • PREPARACION Y CARACTERIZACION DE LAMINAS DELGADAS DE CDS POLICRISTALINO PARA SU UTILIZACION COMO FOTOANODOS EN CELULAS FOTOELECTROQUIMICAS.
    Autor: JIMENEZ FERRER M. ISABEL.
    Año: 1987.
    Universidad: AUTONOMA DE MADRID.
    Centro de lectura: CIENCIAS.
    Centro de realización: INSTITUTO DE CATALISIS Y PETROLEOQUIMICA (CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGACIONES CIENTIFICAS)..
    Resumen: EL TRABAJO DE TESIS CONSISTIO EN LA PREPARACION DE LAMINAS DELGADAS DE CDS POLICRISTALINO A PARTIR DE SUSPENSIONES ACUOSAS DE CDS EN POLVO. DICHAS LAMINAS FUERON SOMETIDAS A DIVERSOS TRATAMIENTOS, TRATAMIENTOS QUE AFECTAN A LAS PROPIEDADES DE LA RED (SINTERIZADO EN FUNCION DE LA TEMPERATURA Y ATMOSFERA DE CALENTAMIENTO) Y TRATAMIENTOS SUPERFICIALES (ATAQUE QUIMICO Y FOTOATAQUE). LA CARACTERIZACION DE LOS ELECTRODOS COMO FOTOANODOS EN CELULAS FOTOELECTROQUIMICAS, MEDIDA DE IMPEDANCIAS, ESPECTROSCOPIA DE ELECTRORREFLECTANCIA MODULADA Y ESPECTROSCOPIAS DE FOTO- Y ELECTROLUMINISCENCIA. EL ESTUDIO DE LA INFLUENCIA DEL METODO DE PREPARACION Y LA MORFOLOGIA DE LA SUPERFICIE SOBRE LAS PROPIEDADES DE LA INTERFASE CDS/ELECTROLITO SE REALIZO POR COMPARACION CON LAMINAS DELGADAS DE CDS POLICRISTALINO PREPARADAS POR SPUITERING.
  • PROPIEDADES OPTICAS DE LAMINAS DELGADAS EN EL INFRARROJO. APLICACION A LA REALIZACION DE FILTROS Y RECUBRIMIENTOS INTERFERENCIALES POR EVAPORACION EN VACIO.
    Autor: LOPEZ MARTINEZ FERNANDO .
    Año: 1987.
    Universidad: COMPLUTENSE DE MADRID.
    Centro de lectura: FISICA.
    Centro de realización: DEPARTAMENTO DE OPTICA (UCM)-CENTRO DE INVESTIGACION Y DESARROLLO DE LA ARMADA..
    Resumen: SE HA REALIZADO UNA INVESTIGACION COMPLETA PARA ALCANZAR EL DOMINIO DE LA TECNOLOGIA DE MULTICAPAS OPTICAS EN LA REGION ESPECTRAL DE 0.9 A 8 MICROM, CON EL FIN DE DOTAR A UN LABORATORIO CONCRETO (CIDA) DE LA CAPACIDAD DE REALIZAR FILTROS INTERFERENCIALES Y RECUBRIMIENTOS OPTICOS EN ESTA REGION INFRARROJA, E INCLUSO EN LA PERSPECTIVA DE EXTENSION A LA REGION DE LA VENTANA ATMOSFERICA DE 8 A 12 MICROM. PARA ELLO SE HAN CUBIERTO LOS OBJETIVOS SIGUIENTES: I) COMPRENSION TEORICA Y ADECUACION A LOS CASOS CONCRETOS DE NUESTRO INTERES DE LA TEORIA GENERAL DE MULTICAPAS, CONDUCIDA BAJO FORMALISMO MATRICIAL. II) DEFINICION Y PUESTA A PUNTO DE UN DISPOSITIVO EXPERIMENTAL DE DEPOSITO DE LAMINAS DELGADAS EN ALTO VACIO, ASI COMO LA CALIBRACION DE UN SISTEMA PARA EL CONTROL OPTICO DE ESPESORES. III) REALIZACION DE MULTICAPAS DE LAMINAS DELGADAS DE MATERIALES IR, CON LA INCLUSION DE LA DEFINICION DE LOS PARAMETROS DE OBTENCION QUE RESULTAN MAS ADECUADOS, TANTO POR SUS PROPIEDADES OPTICAS COMO DE RESISTENCIA MECANICA Y MEDIOAMBIENTAL. CONTROL DE LAS PROPIEDADES OPTICAS, INDICE DE REFRACCION (N) Y COEFICIENTE DE EXTINCION (K), EN FUNCION DE LOS PARAMETROS DE OBTENCION, HABIENDO OBTENIDO EXPERIMENTALMENTE LAS LEYES DE VARIACION DE N Y K CON LA LONGITUD DE ONDA PARA DIFERENTES TEMPERATURAS Y MATERIALES (SILICIO, GERMANIO, MONOXIDO DE SILICIO, SULFURO DE ZINC, ...). IV) HEMOS PRODUCIDO DIFERENTES DISPOSITIVOS MULTICAPA PARA INFRARROJO. EL GRADO DE CUMPLIMIENTO DE LOS OBJETIVOS DE INVESTIGACION PROPUESTOS LO HEMOS CORROBORADO CON LA REALIZACION DE MAS DE 200 EVAPORACIONES, QUE HAN DADO LUGAR A DIFERENTES DISPOSITIVOS Y COMPONENTES OPTICOS, COMO SON: SISTEMAS ANTIRREFLEJANTES, ESPEJOS DE ALTA REFLECTIVIDAD, FILTROS PASO-ALTO Y PASO-BAJO Y PASO-BANDA ESTRECHOS DE CARACTERISTICAS ESTABLES FRENTE A LA TEMPERATURA (200 C) Y ANGULO DE INCIDENCIA.
  • PROPIEDADES MAGNETICAS DE LAMINAS DELGADAS AMORFAS FEXSIL-X.
    Autor: RUBIO GARCIA HONORINO.
    Año: 1987.
    Universidad: CANTABRIA.
    Centro de lectura: CIENCIAS.
    Centro de realización: DEPARTAMENTO DE FISICA. FACULTAD DE CIENCIAS. UNIVERSIDAD DE OVIEDO..
    Resumen: SE HAN ANALIZADO LAS PROPIEDADES MICROMAGNETICAS DE LAMINAS DELGADAS AMORFAS DE FEX SIL - X MEDIANTE LA SUSCEPTIBILIDAD TRANSVERSAL (EL INTERVALO DE COMPOSICIONES ESTUDIADO HA SIDO EL COMPRENDIDO ENTRE X= 3 57 Y X= 0 80). DICHAS PROPIEDADES PUEDEN DESCRIBIRSE MEDIANTE UN MODELO DE ANISOTROPIA MAGNETICA ALEATORIA. LA MAGNITUD DE LA CONSTANTE DE ANISOTROPIA LOCAL OBTENIDA ESTAN COMPRENDIDAS ENTRE CKN10ELEVEADO A 6 ERG/CC Y K 10ELEVADO A 7 ERG/CC EN FUNCION DE QUE LAS DISTANCIAS DE CORRELACION SEAN DEL ORDEN DE 20 A Y 2 5 A RECPECTIVAMENTE. DICHAS DISTANCIAS DE CORRELACION CORRESPONDEN AL LIMITE DE RESOLUCION EXPERIMENTAL DE LA EXISTENCIA DE CRISTALES Y A LA DISTANCIA INTERATOMICA RESPECTIVAMENTE. EL ORDEN DE MAGNITUD DE K 10ELEVADO A 6 ERG/CC ES EQUIVALENTE A LA CORRESPONDIENTE A LA FASE CRISTALINA FESUB3 SI. EL VALOR DE K 107 ERG/CC OBTENIDO EN EL CASO DE UN AMORFO IDEAL (DISTANCIA DE CORRELACION: 2 5 A) PODRIA JUSTIFICARSE POR EL MENOR GRADO DE SIMETRIA LOCAL EN LOS ENTORNOS DEL FE. ASIMISMO SE HAN ESTUDIADO LOS COMPORTAMIENTOS DE LA ANISOTROPIA MACROSCOPICA INDUCIDA EN LAS MUESTRAS DURANTE SU PROCESO DE OBTENCION ASI COMO SU COERCITIVIDAD. LOS ORDENES DE MAGNITUD OBTENIDOS (KN 10ELEVADO A 3 ERG/CC) PUEDEN JUSTIFICARSE BIEN A PARTIR DE UN MODELO DE INCLUSIONES O DE UN MODELO DE ORDENACION DE PARES. LOS VALORES DE CAMPO COERCITIVO SON DEL ORDEN DE 1 OE. SE DISCUTEN LOS POSIBLES ORIGINES FISICOS DE ESTE VALOR.
  • OBTENCION Y MEDIDA DE MAGNITUDES MAGNETICAS DE LAMINAS DELGADAS TB-FE.
    Autor: FERNANDEZ SUAREZ AGUSTIN.
    Año: 1985.
    Universidad: OVIEDO.
    Centro de lectura: QUIMICA.
    Centro de realización: DEPARTAMENTO DE FISICA-FACULTAD DE QUIMICA.
    Resumen: SE ESTUDIAN LAS PROPIEDADES MAGNETICAS DE LAMINAS DELGADAS TB-FE OBTENIDAS POR EVAPORACION TERMICA EN ALTO VACIO DESARROLLANDOSE LAS TECNICAS Y DISPOSITIVOS DE MEDIDA PARA LA DETERMINACION DE LA IMANACION DE SATURACION Y CONSTANTE DE ANISOTROPIA INTRINSECA DE ESTE TIPO DE PELICULAS ASI COMO PARA LA OBTENCION DE LA COMPOSICION QUIMICA Y LOS EFECTOS QUE LA EXPOSICION A LA ATMOSFERA Y POSTERIOR ENVEJECIMIENTO EJERCEN SOBRE SUS PROPIEDADES MAGNETICAS.
  • CARACTERIZACION DEL SULFURO DE COBRE DEPOSITADO EN LAMINA DELGADA POR PULVERIZACION CATODICA D.C. REACTIVA. APLICACION AL ESTUDIO DE LAS PROPIEDADES FOTOVOLTAICAS DE LA HETEROUNION CUXS-CDS.
    Autor: ELIZALDE PEREZ GRUESO EDUARDO.
    Año: 1983.
    Universidad: AUTONOMA DE MADRID.
    Centro de lectura: CIENCIAS.
    Centro de realización: DPTO. FISICA APLICADA FAC. CIENCIAS U.A.M..
    Resumen: SE HA DESARROLLADO UN SISTEMA DE PULVERIZACION CATODICA D.C. REACTIVA QUE PERMITE CONTROLAR LA ESTEQUIOMETRIA DEL SULFURO DE COBRE DEPOSITADO EN LAMINA DELGADA HABIENDOSE DETERMINADO LAS CONDICIONES EXPERIMENTALES QUE CONDUCEN A LA OBTENCION DE LAS FASES CHALCOCITA (CU SUB 2 S) DJURLEITA (CU SUB 1.95S) Y ANILITA (CU SUB 1.75S). SOBRE LOS FILMS REALES SE HAN DETERMINADO POR PRIMERA VEZ LAS CONSTANTES OPTICAS (INDICE DE REFRACCION Y COEFICIENTE DE ABSORCION) DE LAS TRES FASES MENCIONADAS A PARTIR DE UN MODELO COMPLETO EN EL QUE SE TIENE EN CUENTA LAS REFLEXIONES MULTIPLES COHERENTES EN EL FILM E INCOHERENTES EN EL SUSTRATO ASI COMO EL EFECTO DE RUGOSIDAD SUPERFICIAL HABIENDOSE DETERMINADO ASIMISMO LOS BORDES DE ABSORCION DE LAS TRES FASES EL NIVEL DE FERMI Y LA CONCENTRACION DE PORTADORES A PARTIR DE LA ABSORCION POR PORTADORES LIBRES. SOBRE CDS EVAPORADO SE HAN ESTUDIADO LAS PROPIEDADES FOTOVOLTAICAS DE LA HETEROUNION CUXS/CDS.
  • PROPIEDADES ELECTRICAS DE LAMINAS DELGADAS DE CDTE PRODUCIDAS POR PULVERIZACION R.F.
    Autor: GONZALEZ DIAZ GERMAN.
    Año: 1978.
    Universidad: COMPLUTENSE DE MADRID.
    Centro de lectura: FISICA.
    Centro de realización: FACULTAD DE FISICAS UNIV. COMPLUTENSE DPTO. ELECTRICIDAD Y ELECTRONICA..
    Resumen: SE HAN PRODUCIDO LAMINAS DE CDTE DE ALTA RESISTIVIDAD POR ESPESORES DEL ORDEN DE ALGUNAS MICRAS POR UN PROCESO DE PULVERIZACION CATODICA DE RADIOFRECUENCIA. SE VALORA EL SISTEMA DE PRODUCCION MIDIENDO LOS ESPESORES DE LAS LAMINAS PRODUCIDAS POR UN ANALIZADOR DE PERFILES ASI COMO LAS PROPIEDADES ESTRUCTURALES (CRISTALOGRAFIA) Y OPTICAS. SE ANALIZAN LAS PROPIEDADES DE CONDUCCION ELECTRICA CON EXCITACION TANTO EN CONTINUA COMO EN ALTERNA PROPONIENDOSE MODELOS DE COMPORTAMIENTO QUE EXPLICAN SATISFACTORIAMENTE LOS RESULTADOS PARA AMBOS CASOS. ESTOS MODELOS SE BASAN EN LA NATURALEZA POLICRISTALINA DE LA LAMINA ASI COMO EN UN PROCESO DE DIFUSION DEL ELECTRODO INFERIOR EN EL MATERIAL CDTE DURANTE LA PULVERIZACION.
  • ESTUDIO DE LA EPITAXIA, SECRECION SUPERFICIAL, CRECIMIENTO Y DIFUSION DEL SISTEMA EN LAMINA DELGADA AN (111) AG (111) MEDIANTE LEED Y AES.
    Autor: SORIA GALLEGO FEDERICO JESUS.
    Año: 1976.
    Universidad: COMPLUTENSE DE MADRID.
    Centro de lectura: FISICA.
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