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COMPUTACION ANALOGICA



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  • CASE BASED REASONING AS AN EXTENSION OF FAULT DICTIONARY METHODS FOR LINEAR ANALOG ELECTRONIC CIRCUITS DIAGNOSIS .
    Autor: POUS SABADI CARLES.
    Año: 2003.
    Universidad: GIRONA.
    Centro de lectura: ESCOLA POLITECNICA SUPERIOR.
    Centro de realización: ESCOLA POLITECNICA SUPERIOR. UNIVERISTAT DE GIRONA.
    Resumen: El test de circuitos es una fase del proceso de producción que cada vez toma más importancia cuando se desarrolla un nuevo producto. Las técnicas de test y diagnosis para circuitos digitales han sido desarroladas y automatizadas con éxito, mientras que éste no es el caso de los circuitos analógicos. Entre todos los métodos propuestos para diagnosticar circuitos analógicos los más utilizados son los diccionarios de fallas. En esta tesis se describen algunos de ellos, analizando sus ventajas e inconvenientes. Durante estos últimos años, las técnicas de Inteligencia Artificial se han convertido en una de las herramientas principales de investigación para la diagnosis de fallas. Esta tesis desarrolla dos de estas técnicas para cubrir algunos de los inconvenientes que presentan los diccionarios de fallas. La primera propuesta se basa en construir un sistema Fuzzy como herramineta para identificar . Los resultados que se obtienen son bastante buenos en cuanto a detección, aunque no lo son para hallar la desviación concreta. Ya que los diccionarios de fallas se pueden ver como una aproximación muy simplificada al Razonamiento Basado en Casos (CBR), la segunda propuesta hace una extensión de los diccionarios de fallas hacia un sistema CBR. El proposito no es dar una solución general del problema, sinó contribuir con una nueva metodologia. Esta consiste en mejorar los dicionarios de fallas mediante la adición y aceptación de nuevos casos por tal de convertirlo en un sistema CBR. Se describe la estructura de la base de casos así como las tareas de extracción, de reutilización, de revisión y de retención, haciendo especial énfasis en el proceso de aprendizaje. En el transcurso del texto se utilizan diversos circuitos para mostrar ejemplos de los métodos de test descritos, pero en particular el filtro bicuadrático es utilizado para provar las metodologías planteadas, ya que es uno de los benchmarks propuestos en el contexto del test de circuitos analógicos. Las fallas consideradas son paramétricas, permanentes, independientes y simples, aunque la metodología puede ser facilmente extrapolable para el diagnóstico de fallas múltiples y catastróficas. El método se centra en el test de los componentes pasivos, aunque también se puede extender para fallas en los activos.
  • TRANSFORMACIONES CONJUGADAS DE OPERACIONES CON FUNCIONES DE DISTRIBUCION Y APLICACIONES A LOS ESPACIOS METRICOS PROBABILISTICOS .
    Autor: PRATS DUAYGUES FRANCESC.
    Año: 1986.
    Universidad: POLITECNICA DE MADRID.
    Centro de lectura: INFORMATICA.
    Centro de realización: FACULTAD DE INFORMATICA-UPM.
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